基于单片机和LabVIEW的四探针法测薄膜电阻任务书

 2021-08-19 23:48:23

1. 毕业设计（论文）主要目标：

通过对下位机（单片机）和上位机（PC）中的LabVIEW软件的编程，组成可以采集和分析数据的系统，最终使用四探针法来测量出薄膜的方块电阻值。

2. 毕业设计（论文）主要内容：

利用LabVIEW和单片机组成一个数据采集系统来测量薄膜的电阻。作为薄膜的一个重要的电学性能，薄膜电阻往往通过方块电阻来表征。本论文使用四探针法测量薄膜的方块电阻，通过对下位机（单片机）的编程来完成对数据的采集核对上位机主要是LabVIEW的编程来完成数据的分析和输出。

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3. 主要参考文献

  1. 毛建东. 基于LabVIEW的单片机数据采集系统的设计[J]. 微计算机信息，2006,22（3-2）：41-42.
  2. 陈晨，郭小鹏，杨威等. 基于四探针法测量玉米叶片电阻率的研究[J]. 内蒙古农业大学学报，2005,36（5）：84-89.
  3. 鲁效明. 双位组合四探针法测量硅片电阻率[J]. 微电子学，1994,24（3）：60-63.
  4. 郭龙钢，王宇炎. 基于LabVIEW的单片机串口数据采集系统[J]. 自动化技术与应用，2009,28（11）：139-131.
  5. J A Chroboczek, J Link. Four-probe electrometer system for resistivity measurements [J]. Measurement Science and Technology, 1985, 18(7):568-570.
  6. J Jeong,J Kim, G Jun Lee, B D Choi, Intrinsic parameter extraction of a-InGaZnO thin-film transistors by a gated-four-probe method [J]. Applied Physics Letters, 2012, 100(2):6-10.
  7. D W F James, R G Jones. On the four-probe method of resistivity measurement [J]. Measurement Science and Technology. 1965, 42(4):283.
  8. J W Borchert, I E Stewart, A R Rathmell. etal. Effects of length dispersity and film fabrication on the sheet resistance of copper nanowire transparent conductors[J]. Nanoscale. 2015,7(34):14496.

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