1. 毕业设计(论文)主要内容:
在功率电子器件内,芯片互连层(die attachment)是连接芯片与陶瓷基板的重要部件,需要极高的可靠性。纳米银烧结技术目前是制备功率电子器件芯片互连层的主流方法,但是孔隙率是制约其应用的重要原因。本课题对纳米银烧结技术制备纳米银焊点进行研究,调研不同参数对孔隙率的影响机制。毕业论文主要内容为:1. 文献调研,了解国内外研究概况和发展趋势,了解选题与社会、健康、安全、成本以及环境等因素的关系;
2. 调研纳米烧结技术对制备纳米银焊点的关键参数;
3. 研究纳米银焊点的界面形貌和孔隙率,建立其与纳米银烧结参数的关系;
2. 毕业设计(论文)主要任务及要求
1. 文献调研,查阅不少于15篇的参考文献(其中近5年英文文献不少于3篇),了解国内外研究概况和发展趋势,了解选题与社会、健康、安全、成本以及环境等因素的关系,完成开题报告;
2. 掌握纳米银焊点的制备工艺;
3. 通过光学显微镜和扫描电镜等分析测试仪器表征焊点的界面形貌,并计算其孔隙率;
3. 毕业设计(论文)完成任务的计划与安排
第1-3周:查阅相关文献资料,完成英文翻译。明确研究内容,了解研究所需原料、仪器和设备。确定技术方案,并完成开题报告。第4-7周:按照技术方案,调研如何制备纳米银焊点;
第7-10周:掌握光学显微镜、扫描电镜等分析测试仪器对焊点的界面形貌进行表征测试,并计算其孔隙率;
第11-14周:总结试验数据,完成并修改毕业论文;
4. 主要参考文献
[1] Xin Li, Gang Chen, Lei Wang, Yun-hui Mei, Xu Chen, Guo-Quan Lu, Creep properties of low-temperature sintered nano-silver lap shear joints. Materials Science and Engineering: A. 579, 2013: 108-113.
[2] S.T. Chua, K.S. Siow, Microstructural studies and bonding strength of pressureless sintered nano-silver joints on silvers, direct bond copper (DBC) and copper substrates aged at 300oC. Journal of Alloys and Compounds. 687, 2016: 486-498.
[3] R. Khazaka, L. Mendizabal, D. Henry, Review on Joint Shear Strength of Nano-Silver Paste and Its Long-term High Temperature Reliability. Journal of Electronic Materials. 43, 2013: 2459-2466.
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