1. 毕业设计（论文）的内容、要求、设计方案、规划等
薄膜的电阻率是薄膜材料的一个重要的物理特性，在半导体技术飞速发展的今天,许多新器件不断的研制出来,薄层方块电阻Rs的大小是衡量薄层导体导电能力的一个主要参数。
它可以反映半导体外延层晶格完整性的情况，也可以反映扩散层杂质总量的多少以及导电层的质量。
因此，在半导体器件和集成电路制造中，常常需要知道薄层方块电阻的大小，电子器件的很多重要因素也都与薄层电阻有关,因此需要可靠的测量仪器来研究器件的性能。
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2. 参考文献（不低于12篇）
[1] Texas Instruments MSP430F42XX Users Guide,2004
[2] 梁恩主, Protel 99 SE电路设计与仿真应用..北京.清华大学出版社
[3] 谭浩强, C程序设计.北京.清华大学出版社
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